DB13/T 5695-2023标准基本信息
标准名称：GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法
标准号：DB13/T 5695-2023
发布日期：2023-05-06
实施日期： 2023-06-06
制修订：制定
中国标准分类号：L 40
国际标准分类号：31.08
批准发布部门：河北省市场监督管理局
行业分类：无
标准类别：方法标准
DB13/T 5695-2023 GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法
下载格式：pdf标准分类：地方标准
声明：资源收集自用户分享或网络，仅为个人学习参考使用，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误