当前位置:首页 > 国家标准 > GB/T 1554-1995

GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 1554-1995标准基本信息

标准名称:硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

标准号:GB/T 1554-1995

发布日期:1995-04-18

实施日期:1995-12-01

被代替日期:2010-06-01

中国标准分类:H26

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

峨嵋半导体材料厂。

GB/T 1554-1995预览图:

GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误