当前位置:首页 > 国家标准 > GB/T 5594.8-1985

GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 5594.8-1985标准基本信息

标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

标准号:GB/T 5594.8-1985

发布日期:1985-11-27

实施日期:1986-12-01

被代替日期:2016-01-01

中国标准分类:L32

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

上海科技大学。

GB/T 5594.8-1985预览图:

GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  显微结构的测定

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误