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GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 15651.3-2003标准基本信息

标准名称:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准号:GB/T 15651.3-2003

发布日期:2003-11-24

实施日期:2004-08-01

中国标准分类:L50

国际标准分类:31 电子学,31.260 光电子学、激光设备

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

华禹光谷股份有限公司半导体厂。

GB/T 15651.3-2003预览图:

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路  第5-3部分:光电子器件  测试方法

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