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GB/T 20176-2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 20176-2006标准基本信息

标准名称:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

标准号:GB/T 20176-2006

发布日期:2006-03-27

实施日期:2006-11-01

中国标准分类:N33

国际标准分类:71 化工技术,71.040 分析化学,71.040.40 化学分析

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

执行单位:全国微束分析标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

清华大学电子工程系。

GB/T 20176-2006预览图:

GB/T 20176-2006 表面化学分析  二次离子质谱  用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

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