当前位置:首页 > 国家标准 > GB/T 41805-2022

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 41805-2022标准基本信息

标准名称:光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

标准号:GB/T 41805-2022

发布日期:2022-10-14

实施日期:2023-05-01

标准类别:方法

中国标准分类:N05

国际标准分类:81 玻璃和陶瓷工业,81.040 玻璃,81.040.01 玻璃综合

归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会

执行单位:全国光学和光子学标准化技术委员会

主管部门:中国兵器工业集团公司

国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口上报,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行,主管部门为中国兵器工业集团公司。

浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司。

GB/T 41805-2022预览图:

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法  显微散射暗场成像法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误