GB/T 41765-2022标准基本信息
标准名称：碳化硅单晶位错密度的测试方法
标准号：GB/T 41765-2022
发布日期：2022-10-14
实施日期：2023-05-01
标准类别：方法
中国标准分类：H21
国际标准分类：77 冶金，77.040 金属材料试验
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《碳化硅单晶位错密度的测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
北京天科合达半导体股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司。
GB/T 41765-2022预览图：
