GB/T 24468-2009标准基本信息
标准名称：半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
标准号：GB/T 24468-2009
发布日期：2009-10-15
实施日期：2009-12-01
中国标准分类：L85
国际标准分类：17 计量学和测量、物理现象，17.040 长度和角度测量，17.040.30 测量仪器仪表
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
中国电子技术标准化研究所。
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