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GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准
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GB/T 26074-2010标准基本信息

标准名称:锗单晶电阻率直流四探针测量方法

标准号:GB/T 26074-2010

发布日期:2011-01-10

实施日期:2011-10-01

中国标准分类:H17

国际标准分类:77 冶金,77.040 金属材料试验,77.040.99 金属材料的其他试验方法

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

南京中锗科技股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司。

GB/T 26074-2010预览图:

GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法

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