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GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

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GB/T 4937.35-2024标准基本信息

标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

标准号:GB/T 4937.35-2024

发布日期:2024-03-15

实施日期:2024-07-01

标准类别:方法

中国标准分类号:L40

国际标准分类号:31 电子学,31.080 半导体分立器件,31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人 裴选 、赵海龙 、彭浩 、尹丽晶 。

GB/T 4937.35-2024预览图:

GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

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