GB/T 17444-2013标准基本信息
标准名称：红外焦平面阵列参数测试方法
标准号：GB/T 17444-2013
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
全部代替标准：GB/T 17444-1998
中国标准分类：L52
国际标准分类：31 电子学，31.260 光电子学、激光设备
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
中国科学院上海技术物理研究所。
GB/T 17444-2013预览图：
