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GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 30701-2014标准基本信息

标准名称:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

标准号:GB/T 30701-2014

发布日期:2014-03-27

实施日期:2014-12-01

中国标准分类:G04

国际标准分类:71 化工技术,71.040 分析化学,71.040.40 化学分析

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

执行单位:全国微束分析标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

中国计量科学研究院。

GB/T 30701-2014预览图:

GB/T 30701-2014 表面化学分析  硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

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