当前位置:首页 > 国家标准 > GB/T 32280-2015

GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法

下载格式:pdf标准分类:国家标准
本站除公开标准均为非正式版标准(包含征求意见稿、送审稿、报批稿等)仅供参考,使用请以正式版为准。

GB/T 32280-2015标准基本信息

标准名称:硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法

标准号:GB/T 32280-2015

发布日期:2015-12-10

实施日期:2017-01-01

中国标准分类:H21

国际标准分类:77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

有研半导体材料股份有限公司、上海合晶硅材料有限公司、杭州海纳半导体有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、东莞市华源光电科技有限公司。

GB/T 32280-2015预览图:

GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试  自动非接触扫描法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误