GB/T 32651-2016标准基本信息
标准名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
标准号：GB/T 32651-2016
发布日期：2016-04-25
实施日期：2016-11-01
中国标准分类：H82
国际标准分类：29 电气工程，29.045 半导体材料
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
国家太阳能光伏产品质量监督检验中心（无锡市产品质量监督检验中心）、江苏中能硅业科技发展有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、中国电子技术标准化研究院。
GB/T 32651-2016预览图：
