GB/T 36655-2018标准基本信息
标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
标准号：GB/T 36655-2018
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类：L90
国际标准分类：31 电子学，31.030 电子技术专用材料
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。
GB/T 36655-2018预览图：
