GB/T 14031-1992标准基本信息
标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准号：GB/T 14031-1992
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
中国标准分类：L55
国际标准分类：31 电子学，31.200 集成电路、微电子学
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
上海元件五厂。
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