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GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 14140.1-1993标准基本信息

标准名称:硅片直径测量方法 光学投影法

标准号:GB/T 14140.1-1993

发布日期:1993-02-06

实施日期:1993-10-01

被代替日期:2010-06-01

中国标准分类:H21

国际标准分类:77 冶金,77.040 金属材料试验,77.040.01 金属材料试验综合

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅片直径测量方法 光学投影法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

洛阳单晶硅厂。

GB/T 14140.1-1993预览图:

GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法  光学投影法

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