当前位置:首页 > 国家标准 > GB/T 14863-1993

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准
本站除公开标准均为非正式版标准(包含征求意见稿、送审稿、报批稿等)仅供参考,使用请以正式版为准。

GB/T 14863-1993标准基本信息

标准名称:用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

标准号:GB/T 14863-1993

发布日期:1993-12-30

实施日期:1994-10-01

被代替日期:2014-08-15

中国标准分类:L41

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

机械电子工业部46所和4所。

GB/T 14863-1993预览图:

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误