SJ/T 11399-2009标准基本信息
标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法
标准号：SJ/T 11399-2009
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
制修订：制定
中国标准分类：L45
技术归口：中国电子技术标准化研究所
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：无
标准类别：无
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
起草人：鲍超、胡爱华 等
SJ/T 11399-2009预览图：
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
下载格式：pdf标准分类：行业标准
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