SJ/T 2658.4-2015标准基本信息
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
标准号：SJ/T 2658.4-2015
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
制修订：修订
代替标准：SJ/T 2658.4-1986
中国标准分类：L53
国际标准分类：31.080
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：无
标准类别：方法标准
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人：张戈、赵英
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