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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

下载格式:pdf标准分类:行业标准

YS/T 1160-2016标准基本信息

标准名称:工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号:YS/T 1160-2016

发布日期:2016-07-11

实施日期:2017-01-01

制修订:制定

中国标准分类:H12

国际标准分类:29.045

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

标准类别:方法标准

起草单位:

起草人:

YS/T 1160-2016预览图:

YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

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