SJ/T 11702-2018标准基本信息
标准名称：半导体集成电路 串行外设接口测试方法
标准号：SJ/T 11702-2018
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
制修订：制定
中国标准分类：L56
国际标准分类：31.2
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
标准类别：无
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
起草人：钟明琛、胡海涛、李秦华 等