SJ/T 11705-2018标准基本信息
标准名称：微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
标准号：SJ/T 11705-2018
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
制修订：制定
中国标准分类：L55
国际标准分类：31.2
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
标准类别：无
起草单位：中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等
起草人：安琪、林建京、张崤君 等
SJ/T 11705-2018预览图：
