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SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

下载格式:pdf标准分类:行业标准

SJ/T 11703-2018标准基本信息

标准名称:数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

标准号:SJ/T 11703-2018

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

制修订:制定

中国标准分类:L55

国际标准分类:31.2

技术归口:全国集成电路标准化分技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别:无

起草单位:中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

起草人:王琪、张崤君、贾松良 等

SJ/T 11703-2018预览图:

SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

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