SJ/T 11706-2018标准基本信息
标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准号：SJ/T 11706-2018
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
制修订：制定
中国标准分类：L55
国际标准分类：31.2
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
标准类别：无
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
起草人：刘芳、尹航、胡海涛 等
SJ/T 11706-2018预览图：
