SJ/T 11765-2020标准基本信息
标准名称：晶体管低频噪声参数测试方法
标准号：SJ/T 11765-2020
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
制修订：制定
中国标准分类：L 42，L 44
国际标准分类：31.080.30
技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：无
标准类别：方法标准
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
起草人：罗宏伟、胡为、王小强 等
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
SJ/T 11765-2020预览图：
