SJ 21347-2018标准基本信息
标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
标准号：SJ 21347-2018
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
SJ 21347-2018预览图：
SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
下载格式：pdf标准分类：行业标准
声明：资源收集自用户分享或网络，仅为个人学习参考使用，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误