SJ 21343-2018标准基本信息
标准名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
标准号：SJ 21343-2018
英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
发布部门：科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
SJ 21343-2018预览图：
SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法
下载格式：pdf标准分类：行业标准
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