半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则（GB/T 4937.1-2006）
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。读者对象：半导体器件的设计、制造、检验等技术人员及相关人员。
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
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