GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

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工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法（GB/T 14849.5-2014）

GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。