纳米技术 多壁碳纳米管的表征 介观形状因子(GB/T 40568-2021)
本文件描述了多壁碳纳米管(MWCNTs)介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术(SEM)、透射电子显微术(TEM)、黏度法和光散射法等。本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度(SBPL)表征的附加条款,给出了用于评价SBPL的测量方法,其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。
纳米技术 多壁碳纳米管的表征 介观形状因子(GB/T 40568-2021)
本文件描述了多壁碳纳米管(MWCNTs)介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术(SEM)、透射电子显微术(TEM)、黏度法和光散射法等。本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度(SBPL)表征的附加条款,给出了用于评价SBPL的测量方法,其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。
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