硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法（GB/T 42907-2023）
本文件描述了用非接触式涡流感应法测试太阳能电池用单晶硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的方法。本文件适用于非平衡载流子复合寿命在0.1μs～10000μs、电阻率在0.1Ω·cm～10000Ω·cm的硅锭、硅块和硅片的测试。其中瞬态光电导衰减法适用于非平衡载流子复合寿命小于100μs时硅锭、硅块和硅片的测试，准稳态光电导法适用于非平衡载流子复合寿命大于200μs时硅锭、硅块和硅片的测试，非平衡载流子复合寿命在100μs～200μs时，两种测试方法均适用。
