GB/T 43661-2024 表面化学分析扫描探针显微术用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准

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表面化学分析扫描探针显微术用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准（GB/T 43661-2024）

本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanningcapacitancemicroscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanningspreadingresistancemicroscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。