T/CSPSTC 25-2019标准基本信息
标准名称：硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
标准编号：T/CSPSTC 25—2019
英文标题：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)
国际标准分类号：27.160
中国标准分类号：F 12
国民经济分类：M745 质检技术服务
发布日期：2019年08月28日
实施日期：2019年11月15日
起草人：丁建、童翔、李璇、陈振、史振亮、姚冀众、李志坚、蒋猛、薛俊明、卢成绪、郝宇花。
起草单位：能移动能源控股集团有限公司、东泰高科装备科技有限公司北京分公司、杭州纤纳光电科技有限公司、深圳市创益科技发展有限公司、成都中建材光电材料有限公司、河北汉盛光电科技有限公司、标准联合咨询中心股份公司。
范围：本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的范围、术语和定义、装置、试样、程序、数据处理和试验报告。本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。
T/CSPSTC 25-2019预览图：
