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T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CESA 1120-2020标准基本信息

标准名称:人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

标准编号:T/CESA 1120—2020

英文标题:AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for edge side

国际标准分类号:31.200

国民经济分类:I6520 集成电路设计

发布日期:2020年10月30日

实施日期:2020年11月10日

起草人:宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、 汪玉、葛广君、韩银和、李威、全振宇、许源、赵春昊、刘亦珩、张震宁、罗恒、刘勇、恽超、程新超、 张文蒙、梁枭、罗航、陆坚、代翔、王和国、王一鹤、王梦硕、钟明琛

起草单位:中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、清华大学、中国科学院计算技 术研究所、上海依图网络科技有限公司、上海熠知电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、北 京智芯微电子科技有限公司、中科寒武纪科技股份有限公司、阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百 度网讯科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳云天励飞技术有限公司、第四范式 (北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司

T/CESA 1120-2020预览图:

T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

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