T/XAI 8-2021标准基本信息
标准名称：覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法
标准编号：T/XAI 8—2021
英文标题：The test method for tin thickness of COF—Coulomb method
国际标准分类号：25.220.20表面处理
中国标准分类号：A29
国民经济分类：C398 电子元件及电子专用材料制造
发布日期：2021年04月12日
实施日期：2021年04月16日
起草人：方磊、杨洁、孙彬、王健、孟庆才、李辉、申胜男。
起草单位：深圳上达（股份）有限公司、江苏上达电子有限公司、江苏华商企业管理咨询服务有限公司、武汉大学。
范围：本文件规定了覆晶薄膜化锡厚度测试方法库仑法的测试条件、测试方法、判定标准、测试记录和报告。本文件适用于库仑法测试覆晶薄膜锡厚。
T/XAI 8-2021预览图：
