T/CIE 115-2021标准基本信息
标准名称：电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序
标准编号：T/CIE 115—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
发布日期：2021年11月22日
实施日期：2022年02月01日
起草人：来萍、陈媛、何小琦、路国光、黄云、恩云飞、林罡、黄洪钟、米金华
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、电子科技大学
T/CIE 115-2021预览图：
