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T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CIE 133-2022标准基本信息

标准名称:磁随机存储器件数据保持时间测试方法

标准编号:T/CIE 133—2022

国际标准分类号:31.200

国民经济分类:I6520 集成电路设计

发布日期:2022年08月10日

实施日期:2022年08月10日

起草人:赵巍胜、彭守仲、芦家琪、李伟祥、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌。

起草单位:北京航空航天大学、致真存储(北京)科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司。

T/CIE 133-2022预览图:

T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法

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