标准名称：高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备
标准编号：T/BDT 003—2024
英文标题：High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment
国际标准分类号：25.040.01工业自动化系统综合
国民经济分类：C356 电子和电工机械专用设备制造
发布日期：2024年10月09日
实施日期：2024年10月10日
起草人：胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
范围：本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。
T/BDT 003-2024预览图：
