标准名称：电子器件微小漏率检测方法
标准编号：T/BEA 43007—2024
英文标题：Test Methods for Minor Leakage Detection of Electronic Devices
国际标准分类号：17.020
国民经济分类：M745 质检技术服务
发布日期：2024年09月11日
实施日期：2024年09月20日
起草人：董云宁、王汐月、陈俊儒、闫睿、卢耀文、陈千睿、张湧颀、杨传森、田明利、梁进智、梁田、康朋伟、朱振良。
起草单位：北京东方计量测试研究所、中国电子科技集团公司第十二研究所、 中国电子科技集团公司第十一研究所、 南京三乐集团有限公司
范围：本标准适用于电子仪器行业中，检测漏率要求在（1×10-11~5×10-16）Pa·m3/s范围内的行波管、速调管、光电器件、陀螺仪、功率开关器件等电子器件产品。
T/BEA 43007-2024预览图：
