GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告

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表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告（GB/T 36401-2018）

本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量，以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。