电磁兼容 试验和测量技术 第3部分 射频电磁场辐射抗扰度试验（GB/T 17626.3-2023）
此标准适用于电气电子设备的电磁场辐射抗扰度要求，规定了试验等级和必要的试验程序。此标准的目的是建立电气电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据。在此标准中给出的试验方法描述了评估设备或系统对来自非邻近受试设备（EUT）的射频源的射频电磁场的抗扰度符合性方法。试验环境在第6章有明确规定。注1：如IEC GUIDE 107所述，此标准是供产品委员会使用的基础电磁兼容（EMC）出版物。同时在IEC GUIDE 107中规定，产品委员会负责确定此抗扰度试验标准是否适用，如适用，他们有责任确定适合的试验等级及性能判据。全国电磁兼容标准化技术委员会（SAC/TC 246）及其分会与产品委员会合作，以评估对其产品的特定抗扰度试验的试验等级及性能判据。注2：IEC 61000-4-39中定义了邻近EUT的射频源抗扰度试验。 特别关注以防护来自数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射。注3：此标准规定了评估EUT在电磁辐射状况下受影响程度的试验方法。电磁辐射的模拟和测量对定量确定这种影响程度是不够准确的。所定义试验方法的宗旨是为定性分析建立一个对各种EUT均获得良好重复性测量结果的方法。此标准是一个独立的试验方法。不能使用其他试验方法替代来声称符合此标准。
