GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑封器件的易燃性（外部引起的）

半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分 塑封器件的易燃性（外部引起的）（GB/T 4937.32-2023）

此标准适用于半导体器件（分立器件和集成电路），以下简称器件。此标准用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰，模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。注：除了本章增加的内容以及第2章和第4章增加了标题并重新编号外，本试验方法与IEC 60749（1996）第4章1.2的试验方法一致。