YS/T 581.10-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分 X射线荧光光谱分析法测定硫含量

氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分 X射线荧光光谱分析法测定硫含量（YS/T 581.10-2006）

本部分规定了氟化铝中硫含量(以硫酸根表示)的测定方法。本部分适用于氟化铝中硫含量的测定。测定范围0.01％～2.00％。