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DB53/T 501-2013 多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法

下载格式:pdf标准分类:地方标准

DB53/T 501-2013标准基本信息

标准名称:多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法

标准号:DB53/T 501-2013

发布日期:2013-08-01

实施日期: 2013-10-01

制修订:制定

中国标准分类:G 10

国际标准分类:71.040.40

技术归口:云南省质量技术监督局

批准发布部门:云南省质量技术监督局

行业分类:制造业

标准类别:方法标准

起草单位:昆明冶研新材料股份有限公司

起草人:赵建为、张云晖、于艳敏、金波、亢若谷、马启坤、杨晓静、田琦、李晓华、韩小月

本标准规定了电感耦合等离子体质谱法测定多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的方法。本标准适用于改良西门子法生产多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的测定。

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