当前位置:首页 > 地方标准 > DB32/T 4378-2022

DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法

下载格式:pdf标准分类:地方标准

DB32/T 4378-2022标准基本信息

标准名称:衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法

标准号:DB32/T 4378-2022

发布日期:2022-10-23

实施日期: 2022-11-23

制修订:制定

中国标准分类:B 61

国际标准分类:65.020.40

批准发布部门:江苏省市场监督管理局

行业分类:无

标准类别:无

起草单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院(国家石墨烯产品质量检验检测中心(江苏))、苏州晶格电子有限公司、河南煜合科技集团有限公司、江苏华永烯科技有限公司、江南大学、无锡华鑫检测技术有限公司、中国矿业大学、烯源科技无锡有限公司

起草人:杨永强、丁海龙、区炳显、谢一麟、陈武魁、刘禹、魏宁、呼志跃、王云超、王勤生、马龙、李璐、屈晓兰、陈辉、秦继恩

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误