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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 5594.2-1985标准基本信息

标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

标准号:GB/T 5594.2-1985

发布日期:1985-11-27

实施日期:1986-12-01

中国标准分类:L32

归口单位:工业和信息化部(电子)

执行单位:工业和信息化部(电子)

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

天津大学。

GB/T 5594.2-1985预览图:

GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  杨氏弹性模量、泊松比测试方法

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