GB/T 4937.3-2012标准基本信息
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
标准号：GB/T 4937.3-2012
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
中国标准分类：L40
国际标准分类：31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
中国电子科技集团公司第十三研究所。
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