GB/T 14863-2013标准基本信息
标准名称：用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
标准号：GB/T 14863-2013
发布日期：2013-12-31
实施日期：2014-08-15
废止日期：2017-12-15
全部代替标准：GB/T 14863-1993
中国标准分类：H80
国际标准分类：29 电气工程，29.045 半导体材料
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
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