SJ 21262-2018标准基本信息
标准名称：MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求
标准号：SJ 21262-2018
英文名称：Technical requirements for MEMS inertial device chip measurement on wafer
发布部门：科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
SJ 21262-2018预览图：
SJ 21262-2018 MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求
下载格式：pdf标准分类：行业标准
声明：资源收集自用户分享或网络，仅为个人学习参考使用，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误